오늘날 설치된 태양광 패널은 2050년에도 여전히 전력을 생산할 것이지만 그 만큼은 아닐 것입니다. 모듈 성능 저하란 재무 모델이 프로젝트 수명 동안 유지되는지 여부를 결정하는 느리고 꾸준한 출력 침식입니다. LID, PID 및 연간 성능 저하율을 이해하면 장기 수율을 보호하는 모듈을 선택하는 데 도움이 됩니다.

태양광 패널 성능 저하 유형

광유도 열화(LID)

LID는 표준 P형 실리콘 셀의 햇빛 노출 후 처음 몇 시간에서 며칠 동안 발생합니다. 붕소-산소(BO) 복합체가 실리콘에 형성되어 전하 캐리어 수명을 줄이고 출력을 1~3% 감소시키는 결함을 생성합니다. LID는 일회성 이벤트입니다. 빠르게 안정화되며 모듈 수명 동안 지속되지 않습니다.

N형 실리콘(TOPCon, HJT, IBC)은 베이스 레이어에 붕소를 포함하지 않으며 본질적으로 LID에 면역입니다. — P형 PERC에 비해 N형 기술이 갖는 주요 성능 이점 중 하나입니다. LONGi, Jinko 및 Trina는 이제 데이터시트에서 LID가 0.5% 미만인 N형 TOPCon 모듈을 제공합니다.

잠재적 유발 성능 저하(PID)

PID는 모듈 프레임(접지)과 셀 사이의 높은 전위차로 인해 밀봉재와 유리를 통해 이온 이동이 발생할 때 발생합니다. 유리의 나트륨 이온은 셀 표면에 축적되어 출력을 감소시키는 션트 경로를 생성합니다. 때로는 심각한 영향을 받는 모듈에서 20~50%까지 감소합니다.

PID 위험은 다음에서 가장 높습니다.

PID 방지 모듈(IEC 62804에 따라 테스트됨)을 지정하고, 변압기 기반 인버터 또는 PID 보호 기능이 있는 인버터를 사용하고, 올바른 시스템 접지를 보장함으로써 PID를 완화할 수 있습니다. 일부 Sungrow 인버터에는 활성 PID 보상이 포함되어 있습니다.

장기적인 연간 성능 저하

LID 및 PID 외에도 모듈은 UV 노출, 열 순환 및 셀 금속화 변화로 인해 점진적인 성능 손실을 경험합니다. 이는 전원 보증서에 명시된 "연간 성능 저하율"입니다.

모듈 유형일반적인 첫해 손실연간 성능 저하(2~30년)25년차의 출력
표준 P형 PERC(모노)2~3%(LID)0.55%/년~83~87%
프리미엄 P형 PERC(LONGi, Jinko)1~2%0.45%/년~87~90%
N형 TOPCon<0.5%(뚜껑 없음)0.40%/년~90~92%
HJT(이종접합)<0.5%0.25~0.35%/년~93~95%

성능 저하가 수명 수율에 미치는 영향

0.40%/년과 0.55%/년 분해율 사이의 차이는 작은 것처럼 들리지만 상당히 복잡해집니다. 시운전 시 연간 1,400MWh를 생산하는 1MWp 시스템의 경우:

P형 PERC에 비해 N형 TOPCon 모듈의 프리미엄은 일반적으로 $0.01~0.03/W입니다. 1MWp 시스템의 경우 $10,000~30,000입니다. 평생 수익률 혜택은 $45,000 이상이므로 대부분의 시장에서 NPV 기준으로 N 유형 프리미엄을 쉽게 정당화할 수 있습니다.

전원 보증에서 확인해야 할 사항

현장 성능 저하율: 실제 데이터

NREL이 230개 이상의 실제 시스템에서 11,000개 이상의 모듈을 분석한 결과, 결정질 실리콘의 평균 성능 저하가 연간 0.5%로 나타났습니다. 이는 데이터시트 값과 일치합니다. 그러나 분포는 넓습니다. 하위 4분위 모듈은 주로 취급 및 설치 중 부적절한 기계적 보호로 인한 밀봉재 갈변, 박리 및 셀 균열로 인해 연간 1.0~1.5%씩 저하됩니다. 모듈 품질과 설치 품질 모두 중요합니다.